13:30-13:50

签到

13:50-13:55

欢迎致辞

13:55-14:45

光电测试/新能源测试方案

张卫华
（Weihua Zhang）
资深应用工程师

本讲座将重点介绍如下典型应用：

14:45-15:35

新材料的测试方案

顾轶峰
（Joey Gu）
资深应用工程师

本讲座将介绍如何提高测试系统对新材料、器件和工艺进行特征分析的能力，轻松实现DC、I-V、C-V和脉冲测试测量，并介绍如下典型应用：

先进的纳米材料测试解决方案，最大限度提高您的纳米材料特征分析能力。

讨论霍尔效应（Hall Effect）测量主题，如何确定半导体的参数，例如载流子移动性和载流子浓度、霍尔系数、以及电导率和导电类型。

脉冲材料测试

MOS典型参数的测试方法

15:35-15:45

中场休息

15:45-16:15

微弱信号测量难点与应对方案

张卫华
（Weihua Zhang）
资深应用工程师

该讲座将结合测试中的实际问题与典型应用为您讲解如何更准确的进行微弱信号测量，帮助您捕获、分析最微弱的电信号，解决测试中常见问题与困难。主要内容：

讲授进行全面的电子测试并提高测试产能所必需的基本测试原理

如何更加合理的进行微弱信号测试测量

如何应对测试中常见的问题和挑战，例如如何避免噪声干扰，减小测试误差等

提高测试质量、获取更精确数据、采集更可靠的测试结果的方法和技巧

16:15-16:45

多路数据采集和高速度/高精度测试方案

黄建喜
（James Huang）
资深应用工程师

本讲座将为您介绍灵活、易拓展的多路数据采集系统，帮助您提高测试系统的速度和精度，满足最灵敏的信号测试需求，同时着重讲述如下典型应用：

电源老化测试系统

多引脚IC插座测试系统

16:45-17:00

问答&抽奖